国标11685

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国家标准|GB/T 11685-2003

Jul 7, 2003 · 发布单位中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局备注 2004-01-01实施,代替GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988

www.bzxz.net

GB/T 11685-2003 Measurement methods for semiconductor X-ray ...

Jul 7, 2003 · GB/T 11685—2003 This standard is a combination and revision of GB/T8992-1988 "Measurement methods for silicon (lithium) X-ray detector systems" and GB/T11685-1989 "Measurement methods for semiconductor X...

ndls.org.cn

GB/T 11685-2003-半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方...

Jul 7, 2003 · GB/T 11685-2003半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。

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GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方...

Oct 24, 2025 · 当前最新 GB/T 11685-2003 引用标准 GB/T 4079-1994 GB/T 4960.6-1996 被代替标准 GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989 适用范围本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。

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